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J-GLOBAL ID：200903049013107828

自動分析装置

Inventor： 常盤 幸恵 ,  今井 恭子 ,  松原 茂樹
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 春日 讓
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999169499
Publication number (International publication number)：2001004633
Application date： Jun. 16, 1999
Publication date： Jan. 12, 2001
Summary：

【要約】【課題】一つの自動分析装置が有する複数の測定チャンネルのそれぞれの精度管理情報のみならず、装置全体の精度をも判断して表示し、測定精度管理を向上することが可能な自動分析装置を実現する。【解決手段】測定項目、キャリブレーションを行った日時、キャリブレータ、精度管理試料、試薬の種類とロット、キャリブレータを測定して得られた信号の値、許容値、管理平均値、管理SD、測定データの個数、平均値、標準偏差等が表示される。測定チャンネル13-1、13-2のSDは、0.1、0.4であり、全体としては0.7であるので、個々のチャンネルは精度管理基準内であるが、全体のSDは精度管理基準外となっているので、精度管理試料1の全体のSDは周囲と色を変えて表示する。そして、測定チャンネル13-2に対して“メンテナンス1”の処置を行うことを示すメッセージを表示する。

Claim (excerpt)：

反応容器に試薬及び試料を分注し、それによって生成された反応液を測定する自動分析装置において、同一項目を測定する複数の測定チャンネルを含み、それぞれの測定チャンネルでキャリブレータを測定して得られた測定データに基づくキャリブレーション情報と、精度管理試料をそれぞれの測定チャンネルで測定して得られた測定データに基づく精度管理情報と、同一項目の精度管理試料を複数の測定チャンネルで測定して得られた測定データに基づく精度管理情報と、を項目ごとに一括して表示するように構成したことを特徴とする自動分析装置。

FI (2)：

G01N 35/00 A ,  G01N 35/00 F

F-Term (8)：

2G058CB09 ,  2G058CB15 ,  2G058CD12 ,  2G058CE08 ,  2G058GD01 ,  2G058GD03 ,  2G058GD07 ,  2G058GE05