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J-GLOBAL ID：200903049105135070

質量分析装置

Inventor： 寺倉 生剛
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 小林 良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997097996
Publication number (International publication number)：1998282060
Application date： Mar. 31, 1997
Publication date： Oct. 23, 1998
Summary：

【要約】【課題】 質量スペクトルのピーク視認の作業を容易にする。【解決手段】 測定者が操作部を操作して質量スペクトル上で所望の質量範囲を指示すると(S2)、CPUは該質量範囲内の最大ピークを検索し(S3)、該ピーク値I0と表示可能な最大値Imaxの比を計算する(S4)。そして、予め定められている複数の拡大倍率の中で、該比を越えない範囲で最大の拡大倍率を調べ選択する(S4〜S8)。設定された質量範囲内の各ピークを選択された拡大倍率でもって拡大し、更に該質量範囲外と区別できるように表示色を変えてディスプレイの画面上に表示する(S9)。

Claim (excerpt)：

分析により得られた質量スペクトルを表示手段の画面上に表示する質量分析装置において、a)質量スペクトル中の所望の質量範囲を設定するために操作される入力手段と、b)該入力手段により設定された質量範囲内で最大信号強度を有するピークを検索する検索手段と、c)該検索手段により検索されたピークの信号強度と質量スペクトルとして表示可能な最大範囲とに基づき、予め定められた複数の倍率の中から、表示可能な範囲内で該ピークを最大に拡大する倍率を選択する選択手段と、d)該選択手段により選択された倍率により前記質量範囲内の各ピークを拡大し、該質量範囲外の質量スペクトルと共に表示する表示制御手段と、を備えることを特徴とする質量分析装置。

FI (2)：

G01N 27/62 Y ,  G01N 27/62 L