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J-GLOBAL ID:200903049164817487

塩素要求量測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1991344171
Publication number (International publication number):1993154486
Application date: Dec. 03, 1991
Publication date: Jun. 22, 1993
Summary:
【要約】【構成】 次亜塩素酸ナトリウム液貯槽、原水貯槽、及び次亜塩素酸ナトリウム液と原水を混合、反応させる混合槽を備えた要求量算出部と、遊離残留塩素濃度を測定するための遊離残留塩素測定部からなり、遊離残留塩素測定値よりプログラムコンピューターを用いて塩素要求量を算出し、レコーダーに連続記録することを特徴とする供給水源の塩素要求量の自動測定装置。【効果】 供給水源の塩素要求量が変化しても短時間で求めた塩素要求量により塩素注入量の制御が可能となり、一定の遊離残留塩素量を含む用水を得ることができる。特に上水においては利用価値が高い。次亜塩素酸ナトリウム液の過剰注入の危険性がなくなりランニングコストの低減も可能となる。
Claim (excerpt):
次亜塩素酸ナトリウム液貯槽、原水貯槽、及び次亜塩素酸ナトリウム液と原水を混合、反応させる混合槽を備えた塩素要求量算出部、並びに遊離残留塩素濃度を測定するための遊離残留塩素測定部からなり、遊離残留塩素濃度の測定値よりプログラムコンピューターを用いて塩素要求量を算出し、レコーダーに連続記録することを特徴とする塩素要求量測定装置。
IPC (2):
C02F 1/50 ,  C02F 1/76

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