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J-GLOBAL ID：200903049168467006

コリメータユニットを備えたX線検査装置

Inventor： テロセン,ヤコブス アントニウス ,  ドリエス,ヨハン ユリアナ ,  マンショット,ベルナルドゥス ヘルマヌス マリア
Applicant, Patent owner： フィリップス エレクトロニクス エヌ ベー
Agent (1)： 伊東 忠彦 (外1名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1996526116
Publication number (International publication number)：1997512641
Application date： Feb. 12, 1996
Publication date： Dec. 16, 1997
Summary：

【要約】本発明のX線検査装置は、X線ビーム(2)を制限するダイアフラム(8)を備えたコリメータユニットからなり、ダイアフラム(8)の円形アパーチャ(31)は、第1のダイアフラムの設定値に対する第1の径と、第2のダイアフラムの設定値に対する第2の径を有する。コリメータユニット(4)は、取外し可能なフィルタ素子(21)を備えたX線フィルタ(20)を更に有する。

Claim (excerpt)：

対象物(3)のX線画像を形成するためX線ビーム(2)を放出するX線源(1)と、 上記X線画像をピックアップするX線検出器(5)と、 上記X線源(1)と上記X線検出器(5)の間に設けられ、調整可能なアパーチャ(31)を有し、X線を通さず、上記アパーチャ(31)の境界を定め、ダイアフラム(8)の中心軸と実質的に垂直な方向に移動可能なブレード(9)により構成され、上記X線ビームを制限するダイアフラム(8)とからなるX線検査装置であって、 上記アパーチャ(31)の第1の設定に対し、上記ブレード(9)は、第1の径の実質的に円形のアパーチャの境界を定め、 上記アパーチャ(31)の第2の設定に対し、上記ブレード(9)は、第2の径の実質的に円形のアパーチャの境界を定めることを特徴とするX線検査装置。

IPC (3)：

G21K 1/04 ,  G01N 23/04 ,  G21K 3/00

FI (3)：

G21K 1/04 T ,  G01N 23/04 ,  G21K 3/00 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 特開平4-256737
  
• 特開昭60-035299
  

Cited by examiner (2)

• 特開平4-256737
  
• 特開昭60-035299