Pat
J-GLOBAL ID：200903049176451283
液晶表示パネルの輝度欠陥評価装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
,
Agent (1)：
須山 佐一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992321541
Publication number (International publication number)：1994167682
Application date： Dec. 01, 1992
Publication date： Jun. 14, 1994
Summary：
【要約】【目的】 被検査画素の輝度レベルの評価のばらつきを抑え、きめ細かな輝度のレベル分けを実現し、作業効率の向上を実現した液晶表示パネルの欠陥評価装置を提供する。【構成】 被検査画素5の輝度レベルの評価として、最高透過状態での正常画素の透過光の輝度に対する被検査画素の透過光の輝度の比を、被検査画素輝度比算出部21により算出することで、検査作業者が感覚により行なっていた従来の輝度レベルの評価のばらつきや作業効率の低下などが解消できる。また被検査画素5の透過光の輝度の比の対数をとり被検査画素輝度レベル評価部23で主観的な輝度レベルの感覚に合致したきめ細かな輝度レベル評価を行なうことができる。
Claim (excerpt)：
液晶印加電圧に基づいて画素の光透過性が制御される液晶表示パネルに光を照射する光源と、前記光源から照射されて前記液晶表示パネルの画素を透過した光を検出する光検出手段と、前記液晶表示パネルの正常画素の透過率が最高のときの透過光の光量を基準輝度として記憶する基準輝度記憶手段と、前記光源から照射されて前記液晶表示パネルの被検査画素を透過し前記光検出手段で検出された光の光量を被検査画素輝度として出力又は記憶する被検査画素輝度出力手段と、前記基準輝度に対する前記被検査画素輝度の比を算出する被検査画素輝度比算出手段とを具備することを特徴とする液晶表示パネルの輝度欠陥評価装置。
IPC (2)：
G02F 1/13 101
, G01B 11/30
