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J-GLOBAL ID：200903049220463260
妨害波耐力試験装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
本間 崇
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993313315
Publication number (International publication number)：1995167904
Application date： Dec. 14, 1993
Publication date： Jul. 04, 1995
Summary：
【要約】【目的】 電子装置に故意に強電磁界を照射し、どの程度の電磁界の強さまで正常に動作するかを試験する装置に関し、電波吸収体を移動することなく供試機器を回転しながら試験することが可能で、かつ、規定されている電磁界均一性を実現できる試験装置の実現を目的とする。【構成】 ターンテーブル上の供試機器と電磁界照射アンテナとの間に電波吸収体を配置した妨害波耐力試験装置において、ターンテーブルの少なくとも一部を跨ぐ電波吸収体配置台の上に前記電波吸収体を配置し、前記電波吸収体配置台の上面には基準大地面と電気的に接続した導体面を有するように構成する。
Claim (excerpt)：
ターンテーブル上の供試機器と電磁界照射アンテナとの間に電波吸収体を配置した妨害波耐力試験装置において、ターンテーブルの少なくとも一部を跨ぐ電波吸収体配置台の上に前記電波吸収体を配置し、前記電波吸収体配置台の上面には基準大地面と電気的に接続した導体面を有することを特徴とする妨害波耐力試験装置。
IPC (2)：
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