Pat
J-GLOBAL ID:200903049357071199
Ge光検出器
Inventor:
,
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (6):
社本 一夫
, 増井 忠弐
, 小林 泰
, 千葉 昭男
, 富田 博行
, 中田 隆
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2004515597
Publication number (International publication number):2005530360
Application date: Dec. 02, 2002
Publication date: Oct. 06, 2005
Summary:
光検出器デバイスは、基板上に生長しかつ規定された温度範囲内でアニールされた複数のGeエピ層を包含する。そのGeエピ層は、その光検出器デバイスがC-バンド及びL-バンドにおいて効率的に作動するのを可能にする引き伸ばされたGe層を形成している。
Claim (excerpt):
光検出器デバイスであって、
基板;及び
複数のGeエピ層であって、前記基板上に生長しておりかつ規定された温度範囲内でアニールされており、前記Geエピ層が、前記光検出器デバイスがC-バンド及びL-バンドにおいて効率的に作動するのを可能にする引き伸ばされたGe層を形成している、複数のGeエピ層
を含んでなるデバイス。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (6):
5F049MB03
, 5F049NA10
, 5F049NB01
, 5F049PA03
, 5F049SS02
, 5F049WA01
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