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J-GLOBAL ID:200903049357071199

Ge光検出器

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (6): 社本 一夫 ,  増井 忠弐 ,  小林 泰 ,  千葉 昭男 ,  富田 博行 ,  中田 隆
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2004515597
Publication number (International publication number):2005530360
Application date: Dec. 02, 2002
Publication date: Oct. 06, 2005
Summary:
光検出器デバイスは、基板上に生長しかつ規定された温度範囲内でアニールされた複数のGeエピ層を包含する。そのGeエピ層は、その光検出器デバイスがC-バンド及びL-バンドにおいて効率的に作動するのを可能にする引き伸ばされたGe層を形成している。
Claim (excerpt):
光検出器デバイスであって、 基板;及び 複数のGeエピ層であって、前記基板上に生長しておりかつ規定された温度範囲内でアニールされており、前記Geエピ層が、前記光検出器デバイスがC-バンド及びL-バンドにおいて効率的に作動するのを可能にする引き伸ばされたGe層を形成している、複数のGeエピ層 を含んでなるデバイス。
IPC (1):
H01L31/10
FI (1):
H01L31/10 A
F-Term (6):
5F049MB03 ,  5F049NA10 ,  5F049NB01 ,  5F049PA03 ,  5F049SS02 ,  5F049WA01

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