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J-GLOBAL ID：200903049403480953
揺らぎ解析による構造体の動態診断法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
倉橋 暎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991238850
Publication number (International publication number)：1993052714
Application date： Aug. 27, 1991
Publication date： Mar. 02, 1993
Summary：
【要約】【目的】 静止状態ないし運動状態にある構造体の揺らぎを外部から測定して当該構造体の動態の正常・異常を診断する。【構成】 2つの建物の一方を標的とし、この建物の一点に鏡を固定し、他方の建物からこの鏡にレーザ光を照射し、その反射光を位置敏感器で検出し、反射光の揺らぎを時系列データとして取得し、これをフーリエ変換し、対象建物の固有低周波振動数を測定する。この測定した固有低周波振動数より対象建物の動態が正常か否かを診断する。【効果】 構造体の固有共鳴振動周波数を外部から極めて精密な分光法により高感度、高分解能で計測することができるから、構造体の動態が正常であるか否かの診断が極めて正確に、かつ容易に行なえ、安全管理・危険予測上で非常に有効である。
Claim (excerpt)：
静止状態ないし運動状態にある構造体に外部から光ビームを照射する段階と、該構造体からの反射光を受光する段階と、該受光した反射光を解析して前記構造体の動的特性を測定する段階とからなることを特徴とする揺らぎ解析による構造体の動態診断法。
IPC (2)：
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