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J-GLOBAL ID:200903049536156180

超音波計測装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 須山 佐一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998344426
Publication number (International publication number):2000171232
Application date: Dec. 03, 1998
Publication date: Jun. 23, 2000
Summary:
【要約】【課題】 計測対象の位置および形状を圧力波によって非接触で精度よく測定すると共に、同時に圧力波の発生位置および圧力波の伝播する空間の温度分布をも非接触で精度よく測定する。【解決手段】 計測対象の表面1の既知の複数位置に圧力波発生装置2で圧力波5を発生させ、該各発生位置から伝播される各圧力波5を未知の位置に設置して移動可能にされた圧力波検出装置6によって個別に検出する。また、各圧力波5の伝播時間を伝播時間測定装置7,8を用いて測定した後、各伝播時間に基づいて、演算装置9によって圧力波検出装置6の設定位置を算出し、これによって未知であった圧力波検出装置6の設定位置ならびに移動位置を測定する。
Claim (excerpt):
計測対象の既知の複数位置に圧力波を発生させる圧力波発生装置と、前記各圧力波の発生位置に対向する未知の位置に設置して移動可能にされ、該各発生位置から伝播される各圧力波を個別に検出する圧力波検出装置と、前記検出される各圧力波の伝播時間をそれぞれに測定する伝播時間測定装置と、前記測定される各伝播時間によって前記圧力波検出装置の設置位置ならびに移動位置を算出する演算装置とを備えることを特徴とする超音波計測装置。
IPC (4):
G01B 17/00 ,  G01H 5/00 ,  G01K 11/22 ,  G01S 15/06
FI (4):
G01B 17/00 B ,  G01H 5/00 ,  G01K 11/22 ,  G01S 15/06
F-Term (43):
2F056VS01 ,  2F056VS03 ,  2F056VS05 ,  2F056VS07 ,  2F056VS10 ,  2F068AA00 ,  2F068AA04 ,  2F068AA06 ,  2F068AA40 ,  2F068BB01 ,  2F068BB22 ,  2F068DD04 ,  2F068DD09 ,  2F068EE00 ,  2F068FF25 ,  2F068GG07 ,  2F068HH01 ,  2F068KK18 ,  2F068LL04 ,  2F068LL11 ,  2F068LL17 ,  2F068QQ00 ,  2F068QQ05 ,  2F068QQ44 ,  2F068RR01 ,  2F068TT01 ,  2G064AB06 ,  2G064AB16 ,  2G064AB23 ,  2G064BD18 ,  2G064CC13 ,  2G064CC29 ,  2G064DD08 ,  2G064DD12 ,  5J083AA01 ,  5J083AC28 ,  5J083AD01 ,  5J083AD04 ,  5J083AE06 ,  5J083AG20 ,  5J083CA39 ,  5J083CB01 ,  5J083EA31
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
  • 音波式距離測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-273326   Applicant:株式会社日本技研
  • 特開昭60-211308
  • 空中移動体位置測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-332522   Applicant:電子工業株式会社, 理化精機工業株式会社
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