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J-GLOBAL ID：200903049648536083

物体の性状を分析又は同定するためのセンサ、それを用いたセンシング装置及び方法

Inventor：
井辻 健明

About 井辻 健明

, 
笠井 信太郎

About 笠井 信太郎


Applicant, Patent owner：
キヤノン株式会社

About キヤノン株式会社


Agent (2)： 西山 恵三 ,  内尾 裕一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005287388
Publication number (International publication number)：2006153852
Application date： Sep. 30, 2005
Publication date： Jun. 15, 2006
Summary：
【課題】 物体の量が少ないものであっても、正確に検出することが求められていた。【解決手段】 そこで、本発明は、電磁波を伝播させ、物体を複数箇所に配置し得る導波路と、前記複数箇所で前記物体と相互作用し、前記導波路を伝播した前記電磁波を検出するための検出部とを備え、前記検出部で検出される前記電磁波から得られる情報を基に、前記物体の性状を分析又は同定するセンサを提供する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
電磁波を伝播させ、物体を複数箇所に配置し得る導波路と、 前記複数箇所で前記物体と相互作用し、前記導波路を伝播した前記電磁波を検出するための検出部とを備え、 前記検出部で検出される前記電磁波から得られる情報を基に、前記物体の性状を分析又は同定することを特徴とするセンサ。
IPC (2)：
G01N 21/35 ,  G01N 22/00
FI (5)：
G01N21/35 Z ,  G01N22/00 K ,  G01N22/00 U ,  G01N22/00 V ,  G01N22/00 W
F-Term (13)：
2G059AA01 ,  2G059BB12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059FF11 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059HH05 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK01 ,  2G059KK03 ,  2G059MM10
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • センサプレート
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-252694   Applicant：スズキ株式会社
Cited by examiner (3)

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