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J-GLOBAL ID：200903049653975710
自動分析装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
細田 芳徳
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992121235
Publication number (International publication number)：1993288755
Application date： Apr. 14, 1992
Publication date： Nov. 02, 1993
Summary：
【要約】【構成】測定容器を移動させながら複数試料を自動分析する自動分析装置において、該測定容器の移動に供される測定容器を配置したテーブルが所要間隔をおいて複数段積層配設され、各テーブル間は測定容器を移送するためのエレベーター部により連結され、かつ駆動手段および分析手段に供する各装置がその制御および演算を行うコンピューターに接続結合されて自動的に複数試料の連続処理および並行処理を行い得るごとく構成されていることを特徴とする自動分析装置。【効果】本発明により、最上段から最下段までの各操作・処理等および容器の収納を連続させることにより、それらがすべて自動化でき、多段構成のため装置がコンパクトで、また各テーブルの操作・処理等を並行して行うことにより処理スピードが早く、処理試料数の多い自動分析装置を提供することができる。
Claim (excerpt)：
測定容器を移動させながら複数試料を自動分析する自動分析装置において、該測定容器の移動に供される測定容器を配置したテーブルが所要間隔をおいて複数段積層配設され、各テーブル間は測定容器を移送するためのエレベーター部により連結され、かつ駆動手段および分析手段に供する各装置がその制御および演算を行うコンピューターに接続結合されて自動的に複数試料の連続処理および並行処理を行い得るごとく構成されていることを特徴とする自動分析装置。
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
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