Pat

J-GLOBAL ID：200903049664420443

異常解析用データ収集方法

Inventor： 石沢 昌晴
Applicant, Patent owner： 富士電機株式会社
Agent (1)： 山口 巖
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995116778
Publication number (International publication number)：1996314539
Application date： May. 16, 1995
Publication date： Nov. 29, 1996
Summary：

【要約】【目的】制御対象を制御する制御装置、または制御装置を介して制御対象を制御する主制御装置において、異常データの発生原因の追求を容易にする。【構成】データ収集プログラムFP1 により、データ所在箇所DSにあるデータまたは、この箇所からのデータを一定周期で抽出し、抽出したデータを検査対象データODとして、所定期間または所定データ量に達するまで保存データ領域RDに格納する。また、検査プログラムFP2 により検査対象ODの異常の有無を検査し、異常が検出された場合には、転送プログラムFP3 により、異常データが所在した箇所と、異常データに関係するデータの所在箇所のデータとを、設定期間逆上った時点、または設定データ量逆上った時点から異常発生時点まで時系列順に、保存データ領域RDから、RASデータ領域に複写し、異常原因の解析用データとして保存する。

Claim (excerpt)：

制御演算手段と、制御演算手段により実行されて制御装置の機能を実現するプログラムを格納するプログラム記憶手段と、データの記憶手段とを有する制御装置における異常解析用データ収集方法において、データ記憶手段に保存データ領域と、異常データと異常データに関連のあるデータを格納するRASデータ領域とを設け、制御演算手段にプログラムを実行させることにより、制御演算手段は、第1基準のデータ所在箇所として定められたデータの所在箇所のデータ、またはこの所在箇所からのデータを一定周期ごとに抽出し、この抽出したデータを検査対象のデータとして所定期間に達するまで、または所定のデータ量に達するまで保存データ領域に格納し、また検査対象データを格納した時点において、この格納した検査対象データに異常があるか否かを判定し、検査対象データに異常が検出された場合には、異常データ検出時点から設定期間を逆上った時点まで、または異常データ検出時点から設定データ量を逆上った時点までの、検出した異常データが所在した箇所の検査対象データと、異常データに関連のあるデータが所在する箇所の検査対象データとを、時系列順に保存データ領域からRASデータ領域に複写し、RASデータ領域に保存することを特徴とする異常解析用データ収集方法。

IPC (6)：

G05B 23/02 302 ,  G05B 23/02 301 ,  B01J 19/00 ,  G05B 19/02 ,  G05D 9/12 ,  G05D 23/19

FI (7)：

G05B 23/02 302 Y ,  G05B 23/02 301 V ,  B01J 19/00 J ,  G05B 19/02 W ,  G05D 9/12 B ,  G05D 9/12 A ,  G05D 23/19 E