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J-GLOBAL ID：200903049670518188

スリツトランプマイクロスコープ

Inventor： 佐竹 英二 ,  小田 治雄 ,  富岡 研
Applicant, Patent owner： 株式会社ニコン
Agent (1)： 三品 岩男 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991236600
Publication number (International publication number)：1993076498
Application date： Sep. 17, 1991
Publication date： Mar. 30, 1993
Summary：

【要約】【目的】複数の撮影装置が装着されている場合にも、撮影装置の選択が1つの光路変換用部材の操作で簡単で確実に行えるスリットランプマイクロスコープを提供する。【構成】観察光学系の光路への挿脱が可能に設けられ、挿入されたとき前記光路のの光束を偏向させて撮影光束とするための偏向手段と、前記偏向手段の挿脱を検出する検出手段と、前記撮影装置が2台装着された場合に、前記検出結果に応じて一方の撮影装置が動作するよう選択する選択手段とを有することを特徴とする。

Claim (excerpt)：

被検眼をスリット光により照明するためのスリットランプ光学系と、前記照明された被検眼を観察するための観察光学系と、1以上の着脱可能な撮影装置と、撮影装置にレリーズ信号を送るためのレリーズ装置とを有するスリットランプマイクロスコープにおいて、前記観察光学系の光路への挿脱が可能に設けられ、挿入されたとき前記光路のの光束を偏向させて撮影光束とするための偏向手段と、前記偏向手段の挿脱を検出する検出手段と、前記撮影装置が2台装着された場合に、前記検出結果に応じて一方の撮影装置が動作するよう選択する選択手段とを有することを特徴とするスリットランプマイクロスコープ。

IPC (2)：

A61B 3/135 ,  A61F 9/00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭60-079321
  
• 特開昭63-077430
  
• 特開昭54-031992