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J-GLOBAL ID：200903049715569617

IMCコントローラ

Inventor： 田中 雅人 ,  三渕 裕之
Applicant, Patent owner： 山武ハネウエル株式会社
Agent (1)： 山川 政樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993146762
Publication number (International publication number)：1994337704
Application date： May. 27, 1993
Publication date： Dec. 06, 1994
Summary：

【要約】【目的】 センサの時定数が決定したときにフィルタ部の特性を調整する必要のない汎用性の高いIMCコントローラを提供する。【構成】 内部モデル記憶部7aには制御対象プロセスを数式表現した内部モデルのパラメータが記憶されている。センサモデル記憶部8aにはセンサ6を数式表現したセンサモデルのセンサモデル時定数T3が記憶されている。参照時定数記憶部10にはセンサ6の特性に基づく標準設定状態の参照時定数が記憶されている。センサモデル時定数T3及び参照時定数に基づいてフィルタ時定数変更処理部11にて第1の時定数T1及び第2の時定数T2が演算される。第1の時定数T1で目標値フィルタ部2の特性が決定され、第2の時定数T2で操作量演算部4内部の目標値・外乱フィルタ部の特性が決定されることによりフィルタ部の調整を不要にする。

Claim (excerpt)：

制御の目標値から制御対象プロセスに出力する操作量を演算し、制御対象プロセスを数式表現した内部モデルにて制御結果である制御対象プロセスの制御量に相当する参照制御量を演算し、制御量と参照制御量との差をフィードバックすることにより制御を行うIMCコントローラにおいて、入力された目標値を第1の時定数によって決定される特性で出力する目標値フィルタ部と、前記目標値フィルタ部の出力からフィードバック量を減算する第1の減算処理部と、前記第1の減算処理部の出力を第2の時定数によって決定される特性で出力する目標値・外乱フィルタ部、内部モデルのパラメータに基づいて前記目標値・外乱フィルタ部の出力から操作量を演算する操作部からなる操作量演算部と、制御対象プロセスの制御量を計測するセンサと、前記内部モデルのパラメータを記憶する内部モデル記憶部と、前記内部モデルのパラメータに基づいて前記操作量演算部から出力された操作量から参照制御量を演算する内部モデル出力演算部と、前記センサを数式表現したセンサモデルのパラメータを記憶するセンサモデル記憶部と、前記センサモデルのパラメータに基づいて前記内部モデル出力演算部から出力された参照制御量からセンサモデルを含んだ参照制御量を演算するセンサモデル出力演算部と、前記センサから出力された制御量からセンサモデル出力演算部から出力された参照制御量を減算して前記フィードバック量を出力する第2の減算処理部と、前記センサの特性に基づいた標準設定状態の参照時定数を記憶する参照時定数記憶部と、前記センサモデル記憶部から出力されたセンサモデルのパラメータ及び参照時定数記憶部から出力された参照時定数に基づいて前記第1の時定数及び第2の時定数を演算して出力するフィルタ時定数変更処理部とを有することを特徴とするIMCコントローラ。