Pat
J-GLOBAL ID：200903049729718968
温度分布測定方法および温度分布測定システム
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
石井 康夫 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996163456
Publication number (International publication number)：1998009974
Application date： Jun. 24, 1996
Publication date： Jan. 16, 1998
Summary：
【要約】【課題】 光ファイバに沿った線状の温度分布を測定するとともに、光ファイバ上の任意の点において電子回路や電源を必要としないで較正用の温度を検出できる温度分布測定方法を提供する。【解決手段】 温度分布測定部1は、光分岐器4を介して被測定光ファイバ2に接続され、被測定光ファイバ2の遠端に、光ファイバグレーティング3の一端が接続される。広帯域光源5と光スペクトル測定部6とは、光分岐器7、接続用光ファイバ8を介して被測定光ファイバ2に接続される。光スペクトル測定部6の出力は、較正温度測定部9を経て温度分布測定部1に入力されて温度分布を較正する。
Claim (excerpt)：
光ファイバのラマン散乱光を利用した線状の温度分布を測定する温度分布測定方法において、測定用光ファイバの少なくとも一箇所に光ファイバグレーティング部を設け、該光ファイバグレーティング部からの反射光を検出し、前記反射光の波長から前記光ファイバグレーティング部の設置箇所の温度を測定し、前記ラマン散乱光を利用した温度分布の較正をすることを特徴とする温度分布測定方法。
IPC (2)：
FI (2)：
G01K 11/12 F
, G01K 15/00
