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J-GLOBAL ID：200903049733253333

LSIの設計検証方法

Inventor： 矢野 栄一
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 三好 秀和 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991167898
Publication number (International publication number)：1993012371
Application date： Jul. 09, 1991
Publication date： Jan. 22, 1993
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 各PUが保持するDB内に回路データを効率的に再配置することで、PU間発生イベント数を軽減して、実行速度を向上することを目的とする。【構成】 設計者の指定した回路図領域511、回路記述の接続関係512および信号伝搬経路513より信号のDB上の通過領域情報52を求め、通過領域情報52よりDB外イベント発生量540の算出を行った後、DB外イベント発生量540を参考にして回路データのDB群への再配置542を行う。

Claim (excerpt)：

演算処理を行う複数の高速処理単位と、上記複数の高速処理単位に個別に保持され回路図、回路記述の接続関係および信号伝搬経路から成る回路デ-タを格納する複数の回路データベース群と、上記高速処理単位および上記回路データベース群を管理する管理ソフトウェアとによりLSIの設計検証をする際に、上記回路データより信号の上記回路データベース群上の通過領域情報を求め、上記通過領域情報より上記回路データベース群外イベント発生量を算出し、上記回路データベース群外イベント発生量に基づき上記回路データを上記回路データベース群に再配置することを特徴とするLSIの設計検証方法。

IPC (4)：

G06F 15/60 360 ,  G01R 31/28 ,  G06F 11/22 330 ,  G06F 11/26 310