Pat
J-GLOBAL ID:200903049795068052
ハイスループットリードプロファイリング方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
青山 葆 (外2名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2001582566
Publication number (International publication number):2003532877
Application date: May. 08, 2001
Publication date: Nov. 05, 2003
Summary:
【要約】本発明はリード物のハイスループットプロファイリング方法およびそのためのマイクロ熱量測定用デバイスの使用に関する。
Claim (excerpt):
化学物質を多数のサンプルについてハイスループットにてスクリーニングする方法であって、 生物のcDNA発現ライブラリーを宿主にて作製し、 化学物質をその発現ライブラリーの個々のクローンの蛋白発現産物との相互作用について試験することからなる、方法。
IPC (5):
G01N 33/50
, C12N 15/09
, G01N 25/20
, G01N 33/15
, G01N 37/00 103
FI (5):
G01N 33/50 Z
, G01N 25/20 C
, G01N 33/15 Z
, G01N 37/00 103
, C12N 15/00 A
F-Term (23):
2G040AB12
, 2G040BA02
, 2G040BA24
, 2G040CA02
, 2G040CB03
, 2G040CB04
, 2G040DA03
, 2G040HA06
, 2G045AA40
, 2G045HA13
, 2G045HA14
, 4B024AA11
, 4B024BA80
, 4B024CA04
, 4B024DA05
, 4B024DA12
, 4B024EA03
, 4B024GA11
, 4B024GA18
, 4B024GA19
, 4B024HA03
, 4B024HA14
, 4B024HA19
Return to Previous Page