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J-GLOBAL ID:200903049847839672
低吸水性帯電防止セラミックタイルの製造方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
鈴江 武彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992150835
Publication number (International publication number):1993246754
Application date: Jun. 10, 1992
Publication date: Sep. 24, 1993
Summary:
【要約】【目的】低吸水率と共に適切なレベルの制御された導電率を有する帯電防止セラミックタイルの製造方法を提供する。【構成】タイルのセラミック体に必要な原料のバッチ分けの操作に先立って及び別に行なわれる、原料に導電性を与える少なくとも2つの化合物を混合する工程と、このようにして得られた化合物の混合物を粉砕し、そこで、最終生成物が得られる製造方法の残りの操作を続ける前に、この化合物を原料に混合する工程とを具備する方法である。比較的高い導電率の金属酸化物を混合することの効果は、原料の絶縁特性を修正することであり、それによって、静電荷がタイルのセラミック体中に分散し得るような形で、原料を半導体の性質とする。
Claim (excerpt):
タイルのセラミック体に必要な原料のバッチ分けの操作に先立って及び別に行なわれる、原料に導電性を与える少なくとも2つの化合物を混合する工程と、このようにして得られた化合物の混合物を粉砕し、そこで、最終生成物が得られる製造方法の残りの操作を続ける前に、この化合物を原料に混合する工程とを具備し、比較的高い導電率を有する化合物は金属酸化物からなり、その1つが酸化アンチモンであることを特徴とする、低吸水性帯電防止セラミックタイルの製造方法。
IPC (3):
C04B 35/00
, C09K 3/16 101
, E04F 13/14 103
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