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J-GLOBAL ID：200903049868876446
物理量検出装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
深見 久郎 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997143731
Publication number (International publication number)：1998332443
Application date： Jun. 02, 1997
Publication date： Dec. 18, 1998
Summary：
【要約】【課題】 検出性能を高めることのできる小型化された物理量検出装置を提供する。【解決手段】 個々に圧力を検知して電気信号にして出力する複数のセンサ部21〜24は別筐体にして、センサ部のそれぞれから出力された電気信号に基づく表示をする表示部11および複数のセンサ部のそれぞれから出力された電気信号を対応するパラメータを用いて処理し圧力の2値化信号を出力する信号処理部15を備えたコントローラ部1に接続される。
Claim (excerpt)：
個々に物理量を検知して電気信号に変換し出力する複数のセンサ部と、前記センサ部のそれぞれから出力された前記電気信号に基づく表示をする表示部と、前記複数のセンサ部のそれぞれから出力された前記電気信号を対応するパラメータを用いて処理し、前記物理量の2値化信号を出力する検出部とを備えた物理量検出装置において、前記複数のセンサ部のそれぞれは前記表示部および前記検出部に別筐体にして接続されることを特徴とする、物理量検出装置。
IPC (2)：
FI (2)：
G01D 21/00 M
, G01L 19/08
