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J-GLOBAL ID：200903049872865343

半田の外観検査用観察装置

Inventor： 畑瀬 貴之
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 小鍜治 明 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991338110
Publication number (International publication number)：1993172756
Application date： Dec. 20, 1991
Publication date： Jul. 09, 1993
Summary：

【要約】【目的】 電子部品を基板に接着する半田の外観検査に有利な観察装置を提供する。【構成】 半田Sへ向って上方から照明光を照射する第1の光源5と、この半田Sに向って斜上方から照明光を照射する第2の光源6とを設け、且つこれらの光源5,6をLEDから構成している。また第2の光源6の下方にあって、この第2の光源6から照射された照明光を集光する集光素子8と、この集光素子8で集光された照明光を内方へ屈折させて、上記半田Sに斜上方から照射する光学素子9を設けている。

Claim (excerpt)：

電子部品を基板に接着する半田を上方から観察するカメラと、この半田へ向って上方から照明光を照射するLEDから成る第1の光源と、この半田に向って斜上方から照明光を照射するLEDから成る第2の光源と、この第2の光源の下方にあって、この第2の光源から照射された照明光を集光する集光素子と、この集光素子で集光された照明光を内方へ屈折させて、上記半田に斜上方から照射する光学素子とを備えていることを特徴とする半田の外観検査用観察装置。

IPC (4)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/24 ,  G01N 21/84 ,  H05K 3/34

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭63-161700
  
• 特開昭60-008707