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J-GLOBAL ID：200903050043865717
螢光磁粉式自動探傷装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
池田 治幸 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993018125
Publication number (International publication number)：1994201656
Application date： Jan. 08, 1993
Publication date： Jul. 22, 1994
Summary：
【要約】【目的】 被検査材の表面各部における紫外線の入射条件や螢光磁粉から発せられた光の撮像装置に対する入射条件の相違に拘らず、略同一条件下で傷の有無を判断できるようにする。【構成】 傷の有無を判断するために撮像装置から出力された画像信号の信号強度と比較される傷判断閾値THを、画像信号の信号強度が低くなるコーナ部18cでは平面部18fに比較して小さくした。逆に、傷判断閾値THを一定として、コーナ部18cの画像信号を大きくするように補正しても良い。
Claim (excerpt)：
螢光磁粉が付着された被検査材の表面に紫外線を照射する照射手段と、該表面を撮像して画像信号を出力する撮像装置と、該画像信号の信号強度を傷判断閾値と比較して前記表面の傷の有無を判断する傷判断手段とを有する螢光磁粉式自動探傷装置において、前記被検査材の表面各部における前記紫外線の入射条件および前記螢光磁粉から発せられた光の前記撮像装置に対する入射条件の相違に拘らず、略同一条件下で傷の有無を判断できるように予め定められた該表面各部で異なる傷判断閾値を記憶している記憶手段を備え、前記傷判断手段は該傷判断閾値と対応する部分の画像信号の信号強度とを比較して傷の有無を判断することを特徴とする螢光磁粉式自動探傷装置。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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