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J-GLOBAL ID：200903050045443275

測定装置

Inventor： 李 欣増 ,  高田 志郎 ,  宮崎 政行
Applicant, Patent owner： 三菱電機株式会社
Agent (1)： 田澤 博昭 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999150618
Publication number (International publication number)：2000074697
Application date： May. 28, 1999
Publication date： Mar. 14, 2000
Summary：

【要約】【課題】 光ファイバ2の特性やブリルアン散乱光のバンド幅などの制約に起因して、空間分解能を一定値以上に上げることはできなかった。【解決手段】 プローブ光を不連続プローブ光とした測定装置である。さらに、光ファイバ2の測定区間をm個の微小区間に等分割するとともに、演算手段8は、光強度検出器5により所定のサンプリング周期で検出した光強度から利得演算行列式に基づいて各微小区間の散乱利得係数を演算して各微小区間に関する散乱光の周波数シフトを演算し、更に、この周波数シフト及び/又は散乱光強度に基づき各微小区間の歪み及び/又は温度を演算する。

Claim (excerpt)：

被測定物に固定される光ファイバと、上記光ファイバに不連続ポンプ光を入射するポンプ光源と、上記光ファイバに不連続プローブ光を入射するプローブ光源と、上記不連続プローブ光の周波数を設定するとともに所定の周波数範囲で上記不連続プローブ光の周波数を掃引する制御手段と、上記上記光ファイバから出力される出力光の光強度を検出する光強度検出器と、上記光強度検出器への上記出力光の光路に配設され、この出力光に含まれる散乱光を透過するフィルタと、上記光強度検出器で検出されたものであり、上記制御手段により掃引された周波数範囲の散乱光強度に基づいて上記光ファイバの測定区間内の所定の区間の歪み及び/又は温度を演算する演算手段とを備えた測定装置。

IPC (4)：

G01D 5/26 ,  G01B 11/16 ,  G01K 11/12 ,  G01L 1/24

FI (4)：

G01D 5/26 D ,  G01B 11/16 Z ,  G01K 11/12 F ,  G01L 1/24 A

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• 特開平1-086032
  
• 歪・温度分布測定方法およびその測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-201897   Applicant：日本電信電話株式会社
• ブリルアン周波数シフト分布測定方法および装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-202190   Applicant：日本電信電話株式会社
• 特開平1-232228
  

Cited by examiner (4)

• 特開平1-086032
  
• 歪・温度分布測定方法およびその測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-201897   Applicant：日本電信電話株式会社
• ブリルアン周波数シフト分布測定方法および装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-202190   Applicant：日本電信電話株式会社
• 特開平1-232228