Pat
J-GLOBAL ID：200903050176425230
走査画像取得装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
林 恒徳 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999307653
Publication number (International publication number)：2001124996
Application date： Oct. 28, 1999
Publication date： May. 11, 2001
Summary：
【要約】【課題】 高精度な標本画像を長時間に渡って取得する。【解決手段】 光検出器10に入力されたレーザ光は視野マスク信号として出力され、比較回路12でデジタルデータに変換され、時間計測回路14乃至16に供給される。時間計測回路14乃至16は、CPU17からそれぞれイネーブル信号を受け取ると、時間計測回路14はレーザ遮断時間Taを、時間計測回路15はレーザ通過時間Tbを、時間計測回路16はレーザ遮断時間Tcを計測し、その結果をCPU17に供給する。CPU17は、時間比率(Ta+Tc)/Tbを算出し、設定値と比較する。算出した時間比率(Ta+Tc)/Tbが設定値と異なる場合、CPU17は、プログラマブルアンプ18aのゲインを調整し、時間比率(Ta+Tc)/Tbが設定値と一致するように制御する。
Claim (excerpt)：
標本をレーザ光で照射し、その反射光から画像を生成する走査画像取得装置において、前記標本を照射する照射光と前記標本から戻ってくる反射光とを分離する光分離手段と、前記標本を前記レーザ光で走査する走査手段と、前記走査手段と前記標本との間で前記標本と共役な位置に配置されており、前記レーザ光を通過させるレーザ通過部と前記レーザ通過部の両端に設けられ前記レーザ光を遮断するマスク部とを有する視野マスクと、前記標本または前記視野マスクから戻ってくる反射光を検出する光検出手段と、前記光検出手段から出力される電気信号を用いて、前記視野マスクを前記レーザ光が通過したレーザ通過時間と前記視野マスクにより前記レーザ光が遮断されたレーザ遮断時間とを計測する計測手段とを備えることを特徴とする走査画像取得装置。
IPC (2)：
G02B 21/00
, G02B 26/10 104
G02B 21/00
, G02B 26/10 104
2H045AB38
, 2H045AB44
, 2H045AB62
, 2H045BA02
, 2H045CA89
, 2H045CA97
, 2H052AA07
, 2H052AC04
, 2H052AC15
, 2H052AC29
, 2H052AC34
, 2H052AD35
, 2H052AF14
, 2H052AF21
, 2H052AF25
