Pat
J-GLOBAL ID：200903050232498857

光波断層画像測定装置

Inventor：
佐藤 学

About 佐藤 学

, 
丹野 直弘

About 丹野 直弘


Applicant, Patent owner：
科学技術振興事業団

About 科学技術振興事業団


Agent (1)： 清水 守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001007505
Publication number (International publication number)：2002214130
Application date： Jan. 16, 2001
Publication date： Jul. 31, 2002
Summary：
【要約】【課題】 3次元速度ベクトル測定が可能な光波断層画像測定装置を提供する。【解決手段】 光波断層画像測定装置において、コヒーレント光源201からの光波を4つに分け、それぞれ3個の周波数シフター207,208,209を透過させて第1光波1,第2光波2,第3光波3および前記周波数シフターを通さずに参照光として光検出器219に入射される第4光波4(周波数:f0 +f1,2,3 )となし、前記第1光波1は対物レンズ(OL)213の光軸上をOL213に入射し、前記第2光波2は前記OL213の周辺部でOL213に入射し、その出射光波は、X-Z平面内でなす角θで前記第1光波1と交叉させ、さらに前記第3光波3は前記OL213の周辺部でこのOL213に入射し、出射光波は、Y-Z平面内でなす角θで前記第1光波1と交叉させ、生体組織である散乱体が速度V1 で移動しているとき、この散乱体による散乱光は、前記光検出器219でヘテロダイン検出され、RFスペクトラムアナライザー220で周波数分析される。
Claim (excerpt)：
コヒーレント光源からの光波を4つに分け、それぞれ3個の周波数シフターを透過させて第1光波、第2光波、第3光波及び前記周波数シフターを通さずに参照光として光検出器に入射される第4光波(周波数:f0 +f1,2,3 )となし、前記第1光波は対物レンズの光軸上を該対物レンズに入射し、前記第2光波は前記対物レンズの周辺部で該対物レンズに入射し、その出射光波はX-Z平面内でなす角θで前記第1光波と交叉させ、さらに前記第3光波は前記対物レンズの周辺部で該対物レンズに入射し、その出射光波は、Y-Z平面内でなす角θで前記第1光波と交叉させ、生体組織である散乱体が所定速度で移動しているとき、前記散乱体による散乱光は、前記光検出器でヘテロダイン検出され、RFスペクトラムアナライザーで周波数分析されることを特徴とする光波断層画像測定装置。
IPC (2)：
G01N 21/17 630 ,  A61B 10/00
FI (2)：
G01N 21/17 630 ,  A61B 10/00 E
F-Term (11)：
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059FF02 ,  2G059GG01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM