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J-GLOBAL ID：200903050327531665

コンフォーカル顕微鏡

Inventor： 熊谷 悟
Applicant, Patent owner： 株式会社ニコン
Agent (1)： 佐藤 正年 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994181961
Publication number (International publication number)：1995128596
Application date： Jul. 12, 1994
Publication date： May. 19, 1995
Summary：

【要約】【目的】 軸上色収差や倍率色収差のある対物レンズを使用してもシェーディングが発生しないコンフォーカル顕微鏡を得る。【構成】 光源から発せられた光束の光路を偏向して走査する光路偏向部材を介して標本上に集光させ、この集光スポットで照射された標本からの戻り光を、標本と互いに共役な位置に配置されたピンホール付き遮光部材を介して選択的に検出するコンフォーカル顕微鏡において、遮光部材が光路偏向部材による光路の移動に伴って生じる戻り光の集光点位置の移動範囲を含む大きさのピンホールを備えているもの。

Claim (excerpt)：

光源と、光源から発せられた光の光路を偏向する光路偏向部材を備えた偏向光学系と、偏向された光を標本上に集光する対物光学系と、標本からの戻り光を対物光学系と偏向光学系とを介して標本上の集光点と共役な位置に集光し、さらにピンホール付き遮光部材を介して検出する検出系とを備えたコンフォーカル顕微鏡において、前記遮光部材が、前記偏向光学系による光路の移動に伴って生じる戻り光の集光点の移動範囲を含む大きさのピンホールを備えていることを特徴とするコンフォーカル顕微鏡。

IPC (4)：

G02B 21/00 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/64 ,  G02B 21/06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• レーザ走査顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-192774   Applicant：株式会社ニコン
• 特開平3-061918
  
• 走査型レーザー顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-009874   Applicant：日本電子株式会社, 日本電子ライオソニック株式会社
• 特開平3-061918