磁気刺激検出装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：本田崇
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993218552
Publication number (International publication number)：1995067972
Application date： Sep. 02, 1993
Publication date： Mar. 14, 1995
Summary：

【要約】【目的】磁気刺激を行う際に、無電源よる簡素な構成によって、刺激部位に対する磁気刺激パルスの磁束密度と、その電界強度とを的確に測定できるようにする。【構成】刺激コイル10に磁気刺激パルス発生装置14からパルスSpを送出する。刺激コイル10は入力されるパルスSpに基づく磁束を発生して被検者Mの大脳に磁気刺激を与える。この磁束が刺激コイル10に密着して配置されるパルス磁束密度検出器12中のワンターン磁束検出コイル12bで検知され、磁束を検出した誘起電圧を発生する。この誘起電圧である検出信号Saが二本の絶縁線を撚り合わせて磁束に対する寄生開口面積を低減したリード線11を通じて導出され、積分器16及びアッテネータ18を通じて磁気刺激パルスの磁束密度と、その電界強度を示す積分電圧V1 及び分圧電圧V2 を得る。

Claim (excerpt)：

薄手の絶縁基板と、磁束を検出した時に誘起電圧を発生するコイルであって、上記絶縁基板の一方の面上に配置された一つのワンターン磁束検出コイルと、2本の絶縁線を撚り合わせ上記ワンターン磁束検出コイルの両端部に1本ずつ接続されて上記誘起電圧を導出するリード線と、を備える磁気刺激検出装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

特開平3-025385
特開平3-025385
特開昭63-026720

Show all

Return to Previous Page