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J-GLOBAL ID：200903050332857943

地質の調査方法

Inventor： 水原 憲三 ,  寺田 道直
Applicant, Patent owner： 株式会社奥村組
Agent (1)： 杉本 勝徳 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992296048
Publication number (International publication number)：1994147846
Application date： Nov. 05, 1992
Publication date： May. 27, 1994
Summary：

【要約】【目的】地盤に穿った調査孔の内壁面の画像から、画像処理によって地質の分類・同定や境界面等の不連続面の走向傾斜を解析する方法を提供すること。【構成】走査線1上における輝度分布曲線(A)の落ち込みの部分P21を基準にして、走査線2上の輝度分布曲線(B)における落ち込みの部分P22とのずれであるシフト量δ12と、走査線3上の輝度分布曲線(C)における落ち込みの部分P23とのずれであるシフト量δ13を求め、亀裂面の走向傾斜を求める。

Claim (excerpt)：

調査対象の地盤に筒状の孔を穿ち、前記孔の内壁面に、孔の軸に平行な少なくとも二本の計測線を設定し、少なくとも前記計測線上における内壁面を連続的に撮像し、前記両計測線上に相当する画像における走査線上の画像データを所定の範囲で1画素ずつシフトしながら両走査線間で比較し、両走査線間の画像データが最もよく一致するときのシフト量を算出し、前記シフト量ずれた両走査線間の地質を同じ地質と判定することを特徴とする地質の調査方法。

IPC (4)：

G01B 11/24 ,  E21D 9/06 ,  G01C 11/00 ,  G01N 21/88