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J-GLOBAL ID：200903050376215949

X線検出器の特性改善方法及びX線CT装置

Inventor： 堀内 哲也 ,  郷野 誠 ,  貫井 正健
Applicant, Patent owner： ジーイー横河メディカルシステム株式会社
Agent (1)： 井島 藤治 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995054476
Publication number (International publication number)：1996243101
Application date： Mar. 14, 1995
Publication date： Sep. 24, 1996
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 感度の変動を有する固体検出器の感度劣化または感度復帰に応じた補正をする。【構成】 X線検出器の特性改善方法であって、第2の種類の検出素子の感度を参照して各チャネルの検出素子の感度について爆射線量に応じて発生する感度の劣化率の関数と、第2の種類の検出素子の感度を参照して各チャネルの検出素子の感度についてX線照射からの時間に応じて発生する感度の復帰率の関数との少なくとも一方の関数について求め、スキャンを行なって各チャネルのデータを収集し、スキャンによる爆射線量に応じた感度の劣化率と、各スキャン時のデータを用いて復帰率の逆関数より算出した直前のX線照射からの経過時間に応じた感度の復帰率との少なくとも一方について前記関数より求め、このようにして求めた劣化率と復帰率との一方若しくは両方を用いてスキャンで収集した各チャネルのデータを補正する。

Claim (excerpt)：

X線照射を受けて感度が変化する第1の種類の検出素子を画像再構成用に複数チャネル備え、X線照射を受けて感度が変化しない第2の種類の検出素子を基準用の検出素子として備えたX線検出器の特性改善方法であって、第2の種類の検出素子の感度を参照して各チャネルの検出素子の感度について爆射線量に応じて発生する感度の劣化率の関数と、第2の種類の検出素子の感度を参照して各チャネルの検出素子の感度についてX線照射からの時間に応じて発生する感度の復帰率の関数との少なくとも一方の関数について求め、スキャンを行なって各チャネルのデータを収集し、スキャンによる爆射線量に応じた感度の劣化率と、各スキャン時のデータを用いて復帰率の逆関数より算出した直前のX線照射からの経過時間に応じた感度の復帰率との少なくとも一方について前記関数より求め、このようにして求めた劣化率と復帰率との一方若しくは両方を用いてスキャンで収集した各チャネルのデータを補正することを特徴とするX線検出器の特性改善方法。