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J-GLOBAL ID：200903050435379934

レンジ・センサにおけるキャリブレーション方法

Inventor： 高 橋 友 一
Applicant, Patent owner： 日本電信電話株式会社
Agent (1)： 磯野 道造
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994001259
Publication number (International publication number)：1995208913
Application date： Jan. 11, 1994
Publication date： Aug. 11, 1995
Summary：

【要約】【目的】 レーザ光により物体の形状を計測するレンジ・センサにおいて、所定の校正用の治具により簡単に、かつ短時間でキャリブレーションできる。【構成】 校正用治具をn多角錐状とし、先ず、この治具とレーザとカメラとの初期位置を設定し、次に、治具に反射するレーザ光の軌跡をカメラで3次元的に測定して、続いて、この軌跡と初期位置を三角測量により演算し、治具とレーザとカメラの配置関係を3次元位置に変換して計測すると共に、治具を3次元的に移動しつつ計測を繰り返して計測値を収集し、最後に、レーザ・パラメータとカメラ・パラメータとを同時に求める。また、レーザ光の走査線の軌跡を観測して情報とし、観測画像を部分領域に限定して、この軌跡の飛行先の位置を予測することを特徴とする。

Claim (excerpt)：

レーザ光を物体に照射するレーザ装置と、物体の形状を観測するカメラ装置とを備え、この形状を計測するレンジ・センサにおいて、前記レーザ装置に基づく計測特性であるレーザ・パラメータと前記カメラ装置に基づく計測特性であるカメラ・パラメータとを校正用治具により求めて校正するキャリブレーション方法であって、前記校正用治具は、n多角錐状に形成される形状を有しており、先ず、この校正用治具を位置決めするための位置と、レーザ光を制御する制御位置とを3次元的にそれぞれ設定する位置設定の段階と、次に、レーザ光を制御しつつ校正用治具に投影される投影軌跡をカメラ装置により3次元的に測定する軌跡測定の段階と、続いて、この測定される投影軌跡と前記設定される各位置とを三角測量の原理に従って演算し、校正用治具とレーザ装置とカメラ装置との配置関係を統一的な3次元位置に変換して計測すると共に、前記位置決め位置を3次元的に移動しつつ、この計測を繰り返して各配置関係の計測値を所定数収集する配置計測の段階と、最後に、これら計測値に基づき前記レーザ・パラメータとカメラ・パラメータとを同時に推定して求めるパラメータ推定の段階とを順に設けて構成することを特徴とするレンジ・センサにおけるキャリブレーション方法。