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J-GLOBAL ID:200903050435512090
抵抗体の電気抵抗の測定方法および装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
浅村 皓 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994046969
Publication number (International publication number):1995260846
Application date: Mar. 17, 1994
Publication date: Oct. 13, 1995
Summary:
【要約】【目的】 抵抗体表面を傷つけたり、汚染すること無く、抵抗体の円周方向の抵抗分布を連続的に測定できる方法および装置を提供すること。【構成】 抵抗体の電気抵抗を測定する方法において、電圧を印加した抵抗体1を回転させ、回転可能な接触電極8を備えた計測プローブ4を該抵抗体に一定の圧力で押し付けて測定することを特徴とする。また、抵抗体の電気抵抗を測定する装置において、抵抗体に電圧を印加する印加手段5と、該抵抗体を回転させる回転手段6と、抵抗体に接触する回転可能な接触電極8を備えた、抵抗体の抵抗を測定するための計測プローブ4と、該計測プローブの抵抗体への押し付け圧力を一定にする押圧手段14とを有することを特徴とする。
Claim (excerpt):
抵抗体の電気抵抗を測定する方法において、電圧を印加した抵抗体を回転させ、回転可能な接触電極を備えた計測プローブを該抵抗体に一定の圧力で押し付けて測定することを特徴とする抵抗体の電気抵抗の測定方法。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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特開平3-002571
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特開平2-124474
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特開昭61-011671
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