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J-GLOBAL ID：200903050555863236

電子スピン共鳴の測定法および電子スピン共鳴測定装置

Inventor： 丹野 直弘 ,  大矢 博昭 ,  福井 孝一 ,  鵜野 克宏
Applicant, Patent owner： 財団法人山形県テクノポリス財団
Agent (1)： 塩澤 寿夫 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996255858
Publication number (International publication number)：1998104181
Application date： Sep. 27, 1996
Publication date： Apr. 24, 1998
Summary：

【要約】【目的】試料の部分から全体にわたるさまざまなスケールの電子スピン共鳴現象を高感度で測定することができる電子スピン共鳴測定法および測定装置を提供する。【構成】磁場と電磁波を印加した試料にレーザー光を照射し、その透過光の変位を測定することによって試料の電子スピン共鳴を測定することを含む、電子スピン共鳴の測定法;および、試料管を挿入した空洞共振器、試料管に電磁波を照射する電磁波発振器、空洞共振器中に磁場を形成する磁場形成器、試料管にレーザー光を照射するレーザー光発振器および試料を透過したレーザー光の変位を測定するレーザー光測定器を備えた電子スピン共鳴測定装置。

Claim (excerpt)：

磁場と電磁波を印加した試料にレーザー光を照射し、その透過光の変位を測定することによって試料の電子スピン共鳴を測定することを含む、電子スピン共鳴の測定法。