Pat

J-GLOBAL ID：200903050589372126

ダブルビーム法分光測色器及びその校正方法

Inventor： 谷 卓行 ,  猪俣 考史 ,  笠井 直樹
Applicant, Patent owner： 凸版印刷株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002324868
Publication number (International publication number)：2004157062
Application date： Nov. 08, 2002
Publication date： Jun. 03, 2004
Summary：

【課題】ダブルビーム法分光測色器において、受光素子の劣化状況を簡便な方法を用いて正確に把握するとともに、簡便な方法で近似式を決定し、常に既知の値への補正が成されている状態にできる分光測色器及びその校正方法の提供を目的とする。【解決手段】光源の光量を検出する光強度検出手段を備えるダブルビーム法分光測色器を提供する。また、光源の光量を測定し、該光量が基準を満すか否かを判断し、基準を満した場合に、白色板測定のサンプル光とリファレンス光の各光量値によって、受光手段の状態を校正する。また、前記各光量値は光強度検出手段の測定光量と基準光量の比で補正された値である。また、前記各光量値は少なくとも2種の校正板のサンプル光とリファレンス光の光量値の分光反射率と既知の分光反射率から求める近似式によって補正された値である。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

光源と、該光源からの光をリファレンス光とサンプル光に分割する手段と、該リファレンス光とサンプル光をそれぞれ分けて受光する受光手段と、該受光手段から得られる測定値から分光反射率を算出する演算手段からなるダブルビーム法分光測色器であって、 光源の光量を検出する光強度検出手段を備えることを特徴とするダブルビーム法分光測色器。

IPC (3)：

G01J3/02 ,  G01J3/42 ,  G01J3/50

FI (3)：

G01J3/02 C ,  G01J3/42 Z ,  G01J3/50

F-Term (9)：

2G020AA08 ,  2G020CB05 ,  2G020CC63 ,  2G020CD38 ,  2G020CD57 ,  2G020DA12 ,  2G020DA31 ,  2G020DA34 ,  2G020DA35