3次元計測装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：久保幸雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996142831
Publication number (International publication number)：1997325019
Application date： Jun. 05, 1996
Publication date： Dec. 16, 1997
Summary：

【要約】【課題】周期的に計測を行い且つ用途に適した条件設定動作を行う3次元計測装置を提供する。【解決手段】検出光を照射して物体を光学的に走査するための投光手段と、前記物体で反射した検出光を受光する撮像手段とを有し、光投影法によって物体形状を計測する3次元計測装置において、計測環境を測定する予備測定手段と、予備測定手段によって測定された計測環境に応じて計測条件を設定する制御手段とを設け、周期的に計測する連続計測モードを設け、さらに連続計測モードにおける制御手段の動作モードの選択肢として、各回の計測条件を最初の計測時に設定した計測条件に固定する第1モードと、各回の計測条件を計測毎に新たに測定された計測環境に応じて設定する第2モードとをが設ける。

Claim (excerpt)：

検出光を照射して物体を光学的に走査するための投光手段と、前記物体で反射した前記検出光を受光する撮像手段とを有し、光投影法によって物体形状を計測する3次元計測装置であって、計測環境を測定する予備測定手段と、前記予備測定手段によって測定された計測環境に応じて計測条件を設定する制御手段とを有し、周期的に計測する連続計測モードが設けられ、さらに、連続計測モードにおける前記制御手段の動作モードの選択肢として、各回の計測条件を最初の計測時に設定した計測条件に固定する第1モードと、各回の計測条件を計測毎に新たに測定された計測環境に応じて設定する第2モードと、が設けられたことを特徴とする3次元計測装置。

IPC (2)：

G01B 11/24 , G06T 7/00

FI (2)：

G01B 11/24 K , G06F 15/62 415

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

特開平2-097925
3次元形状入力装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-132998 Applicant：ミノルタ株式会社
3次元形状測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-320245 Applicant：ミノルタ株式会社

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