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J-GLOBAL ID：200903050617516872
サンプル測定デバイス及びサンプル測定システム
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
丸島 儀一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992264895
Publication number (International publication number)：1993240872
Application date： Oct. 02, 1992
Publication date： Sep. 21, 1993
Summary：
【要約】【目的】 液体試料の流路のデッドスペースを極力小さくして必要サンプル量の微量化を達成した小型集約化されたサンプル測定用のカートリッジ及びこれを用いた測定システムを提供すること。【構成】 サンプルを注入する注入口5と、注入されたサンプルが蓄積され試薬担体6が封入される蓄積部4と、蓄積部において試薬6と反応した反応液が流され、途中の測定位置に受光素子10、12を有する流通部7と、流通部7内の液体の送液作用を有し、流通部7の測定位置の下流のノズル8付近に設けられた発熱素子であるマイクロポンプ9が、カートリッジとして半導体製造プロセスなどの製法を用いて一体集約的に形成されている。
Claim (excerpt)：
サンプルを注入する注入口、前記注入されたサンプルが流され、途中に測定位置を含む流通部、前記流通部内のサンプルの送り作用を有し、前記流通部の測定位置の下流に設けられたマイクロポンプ、を有することを特徴とするサンプル測定デバイス。
IPC (6)：
G01N 35/08
, C12M 1/34
, G01N 1/00 101
, G01N 21/01
, G01N 21/75
, G01N 33/543
