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J-GLOBAL ID：200903050631285271

圧縮された画像データを使用して参照なしでサーモグラフィックに表面近傍の欠陥を検出するシステム及び方法

Inventor： シェパード、スティーブン、エム ,  ルバデュクス、ブルース、エイ ,  ロータ、ジェイムズ、アール
Applicant, Patent owner： サーマル・ウェーブ・イメージング、インク ,  シェパード、スティーブン、エム ,  ルバデュクス、ブルース、エイ ,  ロータ、ジェイムズ、アール
Agent (2)： 木村 満 ,  石井 裕一郎
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2001541230
Publication number (International publication number)：2004530309
Application date： Dec. 04, 2000
Publication date： Sep. 30, 2004
Summary：

表面近傍の欠陥をサーモグラフィック検出する非破壊、参照不要の方法及びシステムは、赤外線カメラを使用して、加熱されたサンプルの画像を捕捉し、平衡温度まで冷却することを許容する。各画像中の各ピクセルに対して得られた温度-時間データは、対数領域に変換され、最小2乗フィットがこのデータについて行われ、所定のピクセルの温度-時間データに対応する多項式を生成する。この多項式は、改善されたS/N(信号/ノイズ)特性を有する温度-時間データを得るために元の時間領域に変換可能である。欠陥は、当該多項式の二次微分のゼロ交差特性を観察することにより検出可能である。

Claim (excerpt)：

時間に対しサンプルの複数の画像を取得するカメラを備え、各画像が複数のピクセルを有し、各ピクセルが当該サンプルの単調に変化する特性に対応する大きさ(amplitude)を有し、 前記複数の画像を受信し、少なくとも前記複数のピクセルの一部に対してデータ配列を生成するプロセッサを備え、当該データ配列は所定時間におけるピクセルの大きさの対数と当該所定時間の対数とに対応し、前記プロセッサは、少なくとも前記データ配列の一部に多項式をフィットさせ、当該多項式は少なくとも1つの多項式の係数を有し、その結果複数のピクセルの前記部分の各ピクセルが前記少なくとも1つの多項式の係数を含む係数配列により表現される、 ことを特徴とするサンプルの単調に変化する特性の時間応答を判定するシステム。

IPC (1)：

H04N7/18

FI (1)：

H04N7/18 N

F-Term (4)：

5C054CA05 ,  5C054FC12 ,  5C054FC15 ,  5C054HA01

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 樹脂被覆鋼材の製造装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-243215   Applicant：日本鋼管株式会社
• 塗覆装材の欠陥検査方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-291215   Applicant：日本鋼管株式会社