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J-GLOBAL ID：200903050661315671

放射線測定装置

Inventor： 三戸 美生
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (3)： 岩橋 文雄 ,  坂口 智康 ,  内藤 浩樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004060381
Publication number (International publication number)：2005249580
Application date： Mar. 04, 2004
Publication date： Sep. 15, 2005
Summary：

【課題】高エネルギー光子によって求められた線量率補正係数を低エネルギーX線に適用すると過大評価になるという問題があった。【解決手段】入射する放射線によるパルス信号を出力する放射線検出器と、その信号を増幅するアンプ回路と、エネルギー依存性を調整するためのしきい値を備えたコンパレータ回路と、パルス信号を計数して放射線計数値を放射線単位に変換するCPUとを備え、放射線のエネルギー状態に応じて、飽和現象を補正する手段を備える。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

入射する放射線によるパルス信号を出力する放射線検出器と、その信号を増幅するアンプ回路と、エネルギー依存性を調整するためのしきい値を備えたコンパレータ回路と、パルス信号を計数して放射線計数値を放射線単位に変換するCPUとを備え、放射線のエネルギー状態に応じて、飽和現象を補正する手段を備えた放射線測定装置。

IPC (4)：

G01T1/17 ,  G01T1/02 ,  G01T1/20 ,  G01T1/24

FI (4)：

G01T1/17 B ,  G01T1/02 A ,  G01T1/20 H ,  G01T1/24

F-Term (11)：

2G088EE09 ,  2G088EE11 ,  2G088FF02 ,  2G088FF04 ,  2G088FF19 ,  2G088GG19 ,  2G088GG21 ,  2G088KK01 ,  2G088KK12 ,  2G088LL01 ,  2G088LL05

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 放射線測定器
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-025539   Applicant：アロカ株式会社