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J-GLOBAL ID:200903050718116069
X線位置合わせ確認方法、X線位置合わせ確認・位置合わせ方法、及びX線検査装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
高月 亨
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992148439
Publication number (International publication number):1993322803
Application date: May. 15, 1992
Publication date: Dec. 07, 1993
Summary:
【要約】【目的】 X線透過部とX線不透過部とがともに位置合わせ要部を構成している場合にも、X線検査によりその位置合わせ確認、及び必要に応じて位置合わせ制御を行うことができるX線位置合わせ確認方法、X線位置合わせ確認・位置合わせ方法、及びX線検査装置を提供すること。【構成】 ?@被検体1のX線像と、被検体の可視光像とを重ね合わせて位置合わせ確認を行うことを可能とし、あるいは更にX線像と前記可視光像との重ね合わせデータにより位置合わせ制御を行う制御手段を設けたX線位置合わせ確認(位置合わせ)方法。?A被検体にX線を照射するX線光源と、被検体に可視光を照射する可視光源とを備え、被検体のX線像と被検体の可視光像とを重ね合わせ表示する表示手段を設け、あるいは更に被検体の位置合わせ制御を行う制御手段を設けたX線検査装置。
Claim (excerpt):
X線により被検体の位置合わせ確認を行うX線位置合わせ確認方法であって、被検体のX線像と、被検体の可視光像とを重ね合わせて位置合わせ確認を行うことを可能としたX線位置合わせ確認方法。
IPC (2):
Patent cited by the Patent: