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J-GLOBAL ID：200903050737568086

磁場型質量分析装置の質量分離管及び質量分離方法

Inventor： 岩永光恭
Applicant, Patent owner： 日本電子株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000371374
Publication number (International publication number)：2002175773
Application date： Dec. 06, 2000
Publication date： Jun. 21, 2002
Summary：

【要約】【課題】導入される試料が多量であっても、マススペクトルの分解能と感度が低下するのを防止することができる磁場型質量分析装置の質量分離管及び質量分離方法を提供する。【解決手段】磁場型質量分析装置に用いられる質量分離管の管壁の加熱とイオンの質量分離操作とを、同時に並行して行なえるように構成した。

Claim (excerpt)：

磁場の質量分散作用を利用してイオンの質量分散を行なう磁場型質量分析装置に用いられる質量分離管であって、質量分離管壁の加熱とイオンの質量分離を同時に並行して行なえるように構成されていることを特徴とする磁場型質量分析装置の質量分離管。

IPC (2)：

H01J 49/30 ,  G01N 27/62

FI (2)：

H01J 49/30 ,  G01N 27/62 H

F-Term (3)：

5C038HH07 ,  5C038HH26 ,  5C038HH28