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J-GLOBAL ID：200903050769698666

形状計測方法

Inventor： 宇野 真彦
Applicant, Patent owner： 三菱電機株式会社
Agent (5)： 曾我 道照 ,  曾我 道治 ,  古川 秀利 ,  鈴木 憲七 ,  梶並 順
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003070313
Publication number (International publication number)：2004279187
Application date： Mar. 14, 2003
Publication date： Oct. 07, 2004
Summary：

【課題】拡散、鏡面反射を含む一般の表面反射特性をもつ対象物体に対し、画像の明るさ変化の影響を受けずに、安定に対象物体の表面勾配を求める方法を提供する。【解決手段】複数の異なる方向から照明を照射した時の対象物体の画像を複数撮像し、得られた画像における同一座標の画素の輝度と照明の照射方向から、対象物体の表面勾配を計測する方式において、既知の反射モデルを用いて構成された、画像の輝度と表面勾配の関係を表すX個の連立方程式について、新たに、輝度比をとる形のX-1個の連立方程式に変換し、このX-1個の方程式の最小2乗誤差が最小になる様に、対象物体の表面勾配を計算する。【選択図】 図3

Claim (excerpt)：

複数の異なる方向から照明を照射した時の対象物体の画像を複数撮像し、得られた画像における同一座標の画素の輝度と照明の照射方向から対象物体の表面勾配を計測する形状計測方法において、 表面反射モデルから導かれる画像の輝度と表面勾配の関係を表すX個の連立方程式を作成し、 作成された連立方程式を輝度比をとる形のX-1個の連立方程式に変換し、 このX-1個の連立方程式の最小2乗誤差が最小になる様に対象物体の表面勾配を計算する ことを特徴とする形状計測方法。

IPC (1)：

G01B11/24

FI (1)：

G01B11/24 K

F-Term (17)：

2F065AA35 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065CC26 ,  2F065CC28 ,  2F065FF41 ,  2F065HH12 ,  2F065HH13 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ42