装置性能管理方法、装置性能管理システム、および管理プログラム

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：磯野道造
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007115478
Publication number (International publication number)：2008276279
Application date： Apr. 25, 2007
Publication date： Nov. 13, 2008
Summary：

【課題】将来アプリケーションに性能問題を引き起こす可能性が高い装置を検出することができる装置性能管理方法を提供する。【解決手段】装置、該装置を抽象化した論理的存在である論理ユニット、およびアプリケーションの構成情報、ならびに、装置、論理ユニット、およびアプリケーションの間に成り立つ性能の依存関係の構成情報を収集する構成情報収集処理S233と、装置、論理ユニット、およびアプリケーションの性能情報を収集する性能情報収集処理S231と、装置の性能情報と、装置と性能の依存関係がある論理ユニットの性能情報の時間変化値に対して所定期間について相関分析し、相関分析により得られた相関係数が所定の閾値以上のとき、装置が飽和兆候ありと検出する飽和兆候検出処理S236と、飽和兆候ありとされた装置の飽和兆候関連情報を、性能を管理する管理クライアントに告知する飽和兆候情報出力処理S238とを含んで実行する。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

1つ以上の装置および該装置と性能の依存関係がある1つ以上のアプリケーションを備えるシステムにおける装置性能を管理する装置性能管理方法であって、前記装置を管理する管理サーバが、前記装置の構成情報および前記アプリケーションの構成情報、ならびに、前記装置および前記アプリケーションの間に成り立つ性能の依存関係の構成情報を収集する構成情報収集処理と、前記装置の性能情報および前記アプリケーションの性能情報を収集する性能情報収集処理と、前記構成情報と前記性能情報とに基づいて前記装置の飽和兆候を検出する飽和兆候検出処理と、を含んで実行することを特徴とする装置性能管理方法。

IPC (2)：

G06F 11/34 , G06F 3/06

FI (2)：

G06F11/34 S , G06F3/06 304N

F-Term (8)：

5B042GA12 , 5B042HH20 , 5B042MA14 , 5B042MC28 , 5B042MC40 , 5B065EK05 , 5B065EK06 , 5B065EK07

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

アプリケーション性能劣化要因分析方法,アプリケーション性能劣化要因分析システムおよびそのプログラム記録媒体
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-002210 Applicant：日本電信電話株式会社
管理システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-308458 Applicant：株式会社日立製作所
運用管理方法及び実施装置並びに処理プログラム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-158263 Applicant：株式会社日立製作所

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