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J-GLOBAL ID：200903050816167569

放射線検査装置及び放射線検査方法

Inventor： 谷口 良一 ,  向井 一弘 ,  篠田 邦彦 ,  諸富 隆太郎
Applicant, Patent owner： 非破壊検査株式会社 ,  谷口 良一
Agent (1)： 北村 光司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003036954
Publication number (International publication number)：2004245729
Application date： Feb. 14, 2003
Publication date： Sep. 02, 2004
Summary：

【課題】構成が簡易で金属材料の表面形状を検査することの可能な放射線検査装置及び放射線検査方法を提供すること。【解決手段】金属材料である検査対象物M1の一方から同検査対象物M1に放射線を照射する線源11と、同検査対象物M1から線源11側に向かうコンプトン後方散乱線を検出する検出器14とを有する。この検出器14はコリメーターにより検査対象部の視野を限定される放射線カウンターであり、線源11及び検出器14は検査対象物M1の表面から離隔されており、検査対象物M1からのコンプトン後方散乱線により検査対象物M1の表面形状を検査する。また、検出器14の検出エネルギー範囲を限定するエネルギー識別回路を備えるとよい。なお、本発明は、検査対象物M1と放射線検出装置との間に放射線吸収率が検査対象物M1よりも小さな保温材等の介在物M2が存在している場合に適する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

コンプトン後方散乱線による放射線検査装置であって、金属材料である検査対象物(M1)の一方から同検査対象物(M1)に放射線を照射する線源(11)と、同検査対象物(M1)から線源(11)側に向かうコンプトン後方散乱線を検出する検出器(14)とを有し、この検出器(14)はコリメーター(15)により検査対象部の視野を限定される放射線カウンターであり、線源(11)及び検出器(14)は検査対象物(M1)の表面(S1)から離隔されており、検査対象物(M1)の表面形状を検査することを特徴とする放射線検査装置。

IPC (2)：

G01N23/203 ,  G01B15/02

FI (2)：

G01N23/203 ,  G01B15/02 A

F-Term (22)：

2F067AA28 ,  2F067EE02 ,  2F067EE05 ,  2F067HH04 ,  2F067HH05 ,  2F067JJ04 ,  2F067KK08 ,  2F067LL14 ,  2F067LL15 ,  2G001AA01 ,  2G001AA02 ,  2G001BA15 ,  2G001CA01 ,  2G001CA02 ,  2G001DA01 ,  2G001EA03 ,  2G001GA01 ,  2G001GA05 ,  2G001JA06 ,  2G001KA03 ,  2G001LA02 ,  2G001MA06