表面性状測定機、表面性状測定機用の傾斜調整装置および表面性状測定機における測定対象物の姿勢調整方法

Inventor： , , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：木下實三 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999299508
Publication number (International publication number)：2000266534
Application date： Oct. 21, 1999
Publication date： Sep. 29, 2000
Summary：

【要約】【課題】測定対象物の姿勢の調整を操作性を損なうことなく容易に行うことができるとともに、小型化を図れかつコストを安くでき、高精度な測定を行うことができる表面性状測定機、表面性状測定機用の傾斜調整装置およびその表面性状測定機における測定対象物の姿勢調整方法を提供する。【解決手段】表面性状測定機1による測定対象物の性状の測定に先立ち、表面性状測定機1により、算出された測定対象物の姿勢修正量に従ってワーク姿勢調整テーブル10を手動で移動させ、測定対象物の姿勢を調整する。そのため、作業者は、表示された修正量に達するまで各調整手段を操作するだけでよいので、操作が容易であり、操作性を損なうことなく姿勢の調整を高精度に行うことができる。

Claim (excerpt)：

稜線を有する測定対象物がワーク姿勢調整テーブル上に載置されるとともに、測定方向(X軸方向)と、このX軸方向と水平面内で直交する方向(Y軸方向)とに移動可能かつXY平面内で回転可能とされ、さらにX軸方向と垂直面内で直交する方向(Z軸方向)に揺動可能とされ、前記測定対象物の姿勢の調整を行った後にX軸方向に移動自在な検出器により表面性状測定を行う表面性状測定機において、前記測定対象物の姿勢の調整を行うための測定制御手段と、この測定制御手段により制御される測定手段とを備え、前記測定制御手段は、前記測定対象物の表面性状を測定する表面性状測定制御手段と、前記測定対象物の姿勢の調整に際して測定開始点および測定終了点におけるX軸座標値を入力するX軸座標値入力手段と、前記測定対象物の姿勢の調整に際して測定開始点および測定終了点におけるY軸座標値を入力するY軸座標値入力手段と、前記X軸座標値入力手段により入力されたX軸座標値と前記Y軸座標値入力手段により入力されたY軸座標値とからスイベル傾き量(X軸に対するXY平面内での傾き量)とスイベル修正量を算出するスイベル修正量算出手段と、このスイベル修正量算出手段により算出されたスイベル修正量を表示するスイベル修正量表示手段とを含み構成され、前記測定手段は、前記スイベル修正量表示手段に表示されたスイベル修正量に従って前記測定対象物をY軸方向に手動により移動させて姿勢を調整するY軸調整手段と、前記測定対象物をXY平面内で手動により回転させて姿勢を調整するスイベル調整手段とを含み構成されていることを特徴とする表面性状測定機。

F-Term (28)：

2F069AA54 , 2F069AA57 , 2F069AA60 , 2F069AA61 , 2F069CC02 , 2F069DD25 , 2F069DD27 , 2F069EE04 , 2F069EE26 , 2F069FF01 , 2F069GG01 , 2F069GG06 , 2F069GG35 , 2F069GG39 , 2F069GG52 , 2F069GG56 , 2F069GG62 , 2F069HH01 , 2F069JJ08 , 2F069JJ25 , 2F069LL03 , 2F069LL07 , 2F069MM04 , 2F069MM11 , 2F069MM17 , 2F069MM23 , 2F069MM32 , 2F069QQ05

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

形状測定機
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-159994 Applicant：株式会社ミツトヨ
物体の姿勢測定装置、姿勢測定方法、姿勢制御装置および物体表面の検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-185585 Applicant：東レ株式会社
特開平1-272902

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