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J-GLOBAL ID:200903050929540673
被測定物質の荷電を分析する方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
特許業務法人特許事務所サイクス
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005279108
Publication number (International publication number):2007093225
Application date: Sep. 27, 2005
Publication date: Apr. 12, 2007
Summary:
【課題】測定試料中に含まれるタンパク質などの被測定物質の荷電を分析する方法を提供すること。【解決手段】スルホン酸基で修飾された表面を有する基板からなるバイオセンサーに、異なるpHを有する複数の被測定物質含有溶液を接触させ、該バイオセンサー表面への被測定物質の濃縮の程度を測定することを含む、被測定物質の荷電を分析する方法。【選択図】なし
Claim (excerpt):
スルホン酸基で修飾された表面を有する基板からなるバイオセンサーに、異なるpHを有する複数の被測定物質含有溶液を接触させ、該バイオセンサー表面への被測定物質の濃縮の程度を測定することを含む、被測定物質の荷電を分析する方法。
IPC (2):
FI (4):
G01N27/30 351
, G01N27/30 357
, G01N27/30 353Z
, G01N21/27 C
F-Term (7):
2G059AA01
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059EE01
, 2G059GG01
, 2G059JJ12
, 2G059KK04
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
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特表平4-501605号公報
-
特表平4-501606号公報
-
特表平4-501607号公報
-
特表平7-507865号公報
-
国際公開WO96/10178号公報
-
表面プラズモン共鳴測定用バイオチップ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-290255
Applicant:東洋紡績株式会社
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