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J-GLOBAL ID：200903051023686073

試料ホルダ、レーザアブレーション装置、レーザアブレーション方法、試料分析装置、試料分析方法及び試料ホルダ用保持台

Inventor： 大石 昌弘 ,  福田 啓一 ,  吉田 知生
Applicant, Patent owner： TDK株式会社
Agent (1)： 田村 敬二郎 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002069916
Publication number (International publication number)：2003270208
Application date： Mar. 14, 2002
Publication date： Sep. 25, 2003
Summary：

【要約】【課題】 レーザアブレーション-ICP質量分析またはレーザアブレーション-ICP発光分析で粉末試料を分析する際に少量でも分析することができしかも時間がかからずに簡単に分析準備ができる試料ホルダを提供する。また、レーザアブレーション装置、レーザアブレーション方法、試料分析装置、試料分析方法、及び試料ホルダ用保持台を提供する。【解決手段】 この試料ホルダ10は、試料基台11に形成された孔12または凹部を覆うようにして粘着テープ13を試料基台に貼り、試料1を孔または凹部に対応した領域内の粘着面13aに付着させて固定できるように構成した。

Claim (excerpt)：

試料基台に形成された孔または凹部を覆うようにして粘着テープを前記試料基台に貼り、試料を前記孔または前記凹部に対応した領域内で前記粘着テープに付着させて固定できるように構成したことを特徴とする試料ホルダ。

IPC (6)：

G01N 27/64 ,  G01N 1/00 101 ,  G01N 1/28 ,  G01N 21/01 ,  G01N 21/73 ,  G01N 27/62

FI (7)：

G01N 27/64 B ,  G01N 1/00 101 B ,  G01N 21/01 B ,  G01N 21/73 ,  G01N 27/62 F ,  G01N 27/62 G ,  G01N 1/28 W

F-Term (21)：

2G043CA06 ,  2G043CA07 ,  2G043DA06 ,  2G043EA08 ,  2G043KA09 ,  2G052AD32 ,  2G052AD35 ,  2G052AD42 ,  2G052CA04 ,  2G052CA14 ,  2G052DA05 ,  2G052DA33 ,  2G052EB01 ,  2G052GA24 ,  2G052JA04 ,  2G052JA07 ,  2G059BB09 ,  2G059BB10 ,  2G059DD13 ,  2G059EE06 ,  2G059GG01