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J-GLOBAL ID:200903051078045220

薄膜トランジスタの製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 鈴木 喜三郎 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1991243631
Publication number (International publication number):1993082552
Application date: Sep. 24, 1991
Publication date: Apr. 02, 1993
Summary:
【要約】【構成】 バケットタイプの質量非分離型のイオン注入装置により絶縁薄膜を通してシリコン層中に注入された不純物を、まずゲート電極のチャンネルの長さ方向の寸法を小さくした後に、レーザビームの照射で活性化することにより、自己整合型の薄膜トランジスタを大面積にわたって形成する。【効果】 寄生容量が極めて小さく電気的特性の優れた自己整合型の薄膜トランジスタを大面積の絶縁基板上に形成することができる。この結果フリッカーや左右ムラのない表示部を持ち、高速の駆動回路を内蔵する大面積のアクティブマトリクス型の液晶表示体を実現できる。
Claim (excerpt):
絶縁基板上にシリコン層を被着形成する工程と、上記シリコン層をパターニングする工程と、絶縁薄膜を被着形成する工程と、上記絶縁薄膜上にゲート電極を形成する工程と、上記絶縁薄膜を通して上記シリコン層にバケットタイプの質量非分離型のイオン注入装置によって不純物を注入する工程と、上記ゲート電極の側面を薄膜トランジスタのチャンネルの長さ方向にエッチングする工程と、レーザビームを基板の薄膜トランジスタが形成される方向から照射することによって上記不純物を活性化する工程とを含むことを特徴とする薄膜トランジスタの製造方法。
IPC (4):
H01L 21/336 ,  H01L 29/784 ,  H01L 21/265 ,  H01L 27/12
FI (3):
H01L 29/78 311 Y ,  H01L 21/265 G ,  H01L 21/265 B
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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