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J-GLOBAL ID:200903051117748951

位相変動量測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 谷 義一 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992065978
Publication number (International publication number):1993273049
Application date: Mar. 24, 1992
Publication date: Oct. 22, 1993
Summary:
【要約】【目的】 位相変調に際して強度変調成分を伴う場合にも位相変動量を精度よく測定する。【構成】 光位相変調器に信号を印加した場合の位相変動量を測定する装置は、コヒーレントな光を出力する光源1と、被測定位相変調器2に入力する電気信号を発生する電気信号源3と、被測定位相変調器によって位相変調された光信号を複数に分岐する光分岐手段5と、分岐手段5から分岐された光信号を電気信号に変換する光電変換手段7と、光電変換手段7から出力された電気信号のスペクトル強度を測定するスペクトル強度測定手段9と、位相変調された信号の光スペクトル強度を測定する手段6とを具備している。
Claim (excerpt):
光位相変調器に信号を印加した場合の位相変動量を測定する装置であって、コヒーレントな光を出力する光源と、被測定位相変調器に入力する電気信号を発生する電気信号源と、被測定位相変調器によって位相変調された光信号を複数に分岐する光分岐手段と、前記分岐手段から分岐された光信号を電気信号に変換する光電変換手段と、該光電変換手段から出力された電気信号のスペクトル強度を測定するスペクトル強度測定手段と、位相変調された信号の光スペクトル強度を測定する手段とを具備してなることを特徴とする位相変動量測定装置。
IPC (4):
G01J 9/00 ,  G01M 11/00 ,  G02F 1/015 505 ,  G05D 25/00
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 特開平3-123828
  • 特開昭63-298131

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