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J-GLOBAL ID：200903051123758179

レーザー測距装置

Inventor：
石尾 渉

About 石尾 渉


Applicant, Patent owner：
オムロン株式会社

About オムロン株式会社


Agent (1)： 中野 雅房
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997017307
Publication number (International publication number)：1998197635
Application date： Jan. 13, 1997
Publication date： Jul. 31, 1998
Summary：
【要約】【課題】 雪や雨等の悪環境によって距離検出性能が低下した場合には、感度を向上させて距離検出性能を維持させる。【解決手段】 投光部24から出射されたレーザーパルスLは光走査部25によって走査される。対象物で反射して戻ってきたレーザーパルスLは受光素子29で受光され、受光回路30で増幅された受光信号bは積分器33で積分される。一定パルス数の受光信号bが積分されると、ゲート回路34が開いて積分値fが出力され、しきい値判定部35でしきい値Vthと比較される。積分値fがしきい値Vthよりも大きい場合には、検出信号cが出力され、距離算出部36で距離が演算される。雪や雨などで計測環境が悪化すると、環境条件検出部37で検出され、光走査部25による走査速度を遅くすると共に、それに対応するようにゲート回路34を開く周期を長くする。
Claim (excerpt)：
レーザー光を出射する投光部と、投光部から出射されたレーザー光を走査させる光走査部と、対象物で反射されたレーザー光を受光することによって対象物までの距離を検出する受光部と、環境条件を検出する手段とを備え、前記環境条件検出手段によって検出された環境条件に応じて、前記受光部におけるレーザー光の検出時間を変更することを特徴とするレーザー測距装置。
IPC (4)：
G01S 17/08 ,  G01B 11/00 ,  G01C 3/06 ,  G01S 7/48
FI (4)：
G01S 17/08 ,  G01B 11/00 B ,  G01C 3/06 Z ,  G01S 7/48 Z
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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