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J-GLOBAL ID：200903051129690410

蛍光により組織特性を測定する方法

Inventor： ステフアン・アンデルソン-エンゲルス ,  ジヨナス・ヨハンソン ,  ウネ・ステンラム ,  カタリナ・スヴアンベルグ ,  スネ・スヴアンベルグ
Applicant, Patent owner： スペクトラフオス・エービー
Agent (1)： 山本 秀策 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002222126
Publication number (International publication number)：2003057182
Application date： Feb. 21, 1990
Publication date： Feb. 26, 2003
Summary：

【要約】【課題】 本発明は、誘導蛍光により組織特性を測定する方法において、蛍光検出時に最大のコントラストを得ること。【解決手段】 妨害になる吸収性物質の存在下で組織特性を測定する蛍光撮像装置であって:狭い波長帯の光を発生する照射源と;少なくとも二つの蛍光強度値を得るために、少なくとも二つの予め決められたスペクトルインターバルで、前記照射源により照射されたサンプルからの蛍光を検出するための検出器であって、該少なくとも二つの予め決められたスペクトルインターバルが、前記吸収物質の中で実質的に等しい吸収値を有する一対の波長値上の波長に中心を置かれている、検出器と;前記サンプルの組織特性に特徴的な数値を得るために、前記少なくとも二つの蛍光強度値に対して少なくとも一つの割り算操作を含む演算を行うための算術/論理手段とを具備する装置。

Claim (excerpt)：

妨害になる吸収性物質の存在下で組織特性を測定する蛍光撮像装置であって:狭い波長帯の光を発生する照射源と;少なくとも二つの蛍光強度値を得るために、少なくとも二つの予め決められたスペクトルインターバルで、前記照射源により照射されたサンプルからの蛍光を検出するための検出器であって、該少なくとも二つの予め決められたスペクトルインターバルが、前記吸収物質の中で実質的に等しい吸収値を有する一対の波長値上の波長に中心を置かれている、検出器と;前記サンプルの組織特性に特徴的な数値を得るために、前記少なくとも二つの蛍光強度値に対して少なくとも一つの割り算操作を含む演算を行うための算術/論理手段とを具備する装置。

IPC (2)：

G01N 21/64 ,  A61B 1/00 300

FI (3)：

G01N 21/64 Z ,  G01N 21/64 B ,  A61B 1/00 300 D

F-Term (32)：

2G043AA03 ,  2G043AA06 ,  2G043BA16 ,  2G043DA01 ,  2G043EA01 ,  2G043FA03 ,  2G043HA02 ,  2G043JA03 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043LA03 ,  2G043MA01 ,  2G043NA01 ,  4C061AA22 ,  4C061BB01 ,  4C061CC07 ,  4C061DD04 ,  4C061FF46 ,  4C061LL03 ,  4C061NN01 ,  4C061NN05 ,  4C061QQ01 ,  4C061QQ04 ,  4C061QQ09 ,  4C061RR03 ,  4C061RR04 ,  4C061RR26 ,  4C061SS21 ,  4C061WW17