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J-GLOBAL ID：200903051157931511
計測システム
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
鎌田 久男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991301164
Publication number (International publication number)：1993113346
Application date： Oct. 21, 1991
Publication date： May. 07, 1993
Summary：
【要約】【目的】 より効率的に多角的なデータを処理でき、計測設備を有効かつ柔軟に活用することを可能とする。【構成】 測定対象である物理量を検出するセンサ部10と、センサ部により検出されたデータを取り込むデータ取込み用CPU11と、データを処理する複数の測定値処理用CPU12〜15と、データ取込み用CPUからのデータを格納し、前記複数の測定値処理用CPUに接続される共有領域がある単一のメモリ1とを有し、センサ部により検出された測定値をデータ取込み用CPUを介して、メモリ1の共有領域に格納し、複数の測定値処理用CPUが測定値をそれぞれ独立に処理できる。
Claim (excerpt)：
測定対象である物理量を検出するセンサ部と、前記センサ部により検出されたデータを取り込むデータ取込み用CPUと、前記データを処理する複数の測定値処理用CPUと、前記データ取込み用CPUからのデータを格納し、前記複数の測定値処理用CPUに接続される共有領域がある単一のメモリとを有し、前記センサ部により検出された測定値を前記データ取込み用CPUを介して、前記メモリの共有領域に格納し、前記複数の測定値処理用CPUが互いに独立に前記測定値を処理できるように構成したことを特徴とする計測システム。
IPC (2)：
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