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J-GLOBAL ID：200903051185283622
分析試料の前処理方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
服部 雅紀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991211805
Publication number (International publication number)：1993052773
Application date： Aug. 23, 1991
Publication date： Mar. 02, 1993
Summary：
【要約】【目的】 操作が簡便で、測定元素の微量分析が可能で、かつClの分析が可能な高検出感度の分析試料の前処理方法を提供する。【構成】 分析試料である液体試料の一定量を金属板または金属箔上に点滴し、乾燥し、液滴を金属板または金属箔上に固着する。液体試料中には、金属板または金属箔と反応する腐食性成分を添加する。これは、点滴した液滴を乾燥過程で良好に金属板または金属箔に固着することで、液滴成分の損失をなくし、分析精度を高めるためである。分析手段には蛍光X線分析法を用いる。
Claim (excerpt)：
蛍光X線分析法に用いる試料の前処理方法であって、液体試料の一定量を金属板または金属箔上に点滴し、点滴した液滴を乾燥することを特徴とする分析試料の前処理方法。
Patent cited by the Patent：
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